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Firmen-News / Archiv

Starten Sie erfogreich ins neue Jahr mit innovativer 3D Messtechnik!

Damit Sie erfolgreich durchstarten können:
Sichern Sie sich innovative High-End Technologie zum attraktiven Einstiegspreis! mehr lesen ..

Internationaler Besuch bei der Stahlgruber Stiftung

Rainer Huber, Produktmanager, präsentiert Shearografieanlage Intact 1.200 im Rahmen einer Weiterbildungsveranstaltung vor 20 Mitarbeitern des Koreanischen Reifenherstellers Hankook. mehr lesen ..

New Main Propulsion Shaft Inspection System to Save Navy $10.8 Million over Five Years

Die Firma STEINBICHLER VISION SYSTEMS, Inc. war ein Mitglied des Projektteams
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Positive Geschäftsentwicklung

Steinbichler Optotechnik GmbH weiterhin auf Wachstumskurs
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Pressekonferenz Juli 2011

Präsentation innovativer optischer Messtechnik
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Intact 4300 OTR Reifenprüfsystem

Steinbichler Optotechnik stellt Intact 4300 OTR System vor
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Shearografie NDT Composite Labor

NDT Composite Labor in unserem Firmenhauptsitz in Neubeuern im Einsatz
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DigImprint: Realisierung eines 3D-Sensors

zur digitalen intraoralen Erfassung von zahnärztlichen Präparationen (In-Vivo), zur Herstellung von struktur-optimiertem Zahnersatz
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"Messtechnik für die Formel 1"

Die Welt am Sonntag berichtet in einem Artikel vom 05.12.2010 über Steinbichler Optotechnik
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Automatisierte optische 3D-Messtechnik zur Qualitätssicherung in der Blechverarbeitung

Innovativer Weg in der Messtechnik steigert die Prozesssicherheit mehr lesen ..

Steinbichler Optotechnik GmbH ist Projektpartner
im BMBF-geförderten Projekt "inFoRob"

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MM-Award auf der Automatica 2010 für ABISreflect verliehen

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Industriepreis 2010
Kategoriesieger Optische Technologien Intact 4300

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1. InfoForum Oberflächeninspektion

erfolgreiche Veranstaltung in Kooperation mit Daimler AG / Mercedes Benz Werk Sindelfingen
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Chinesischer Generalkonsul informiert sich vor Ort über innovative Messtechnik aus Neubeuern

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Dr. Hans Steinbichler Award auf der FRINGE 2009 verliehen

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7. InfoForum 3D-Digitalisierung am 13.11.08

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Einladung zum 7. InfoForum 3D-Digitalisierung am 13.11.2008

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Vertriebspartnerschaft mit HAHN+KOLB Werkzeuge GmbH

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Neue Vertriebskooperation mit D&P Daten- und Prüftechnik Edelmann

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Zusammenarbeit mit Tebis ausgebaut

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Industriepreis 2008 der Initiative Mittelstand

für Steinbichler Optotechnik GmbH - ABIS II Sensor zur optischen Oberflächeninspektion
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Innovationspreis 2007 der Initiative Mittelstand

für Steinbichler Optotechnik GmbH - T-SCAN Laserscanner
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InnovMetric Software und Steinbichler unterzeichnen Vertriebsvereinbarung für Polyworks® Software

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5. InfoForum 3D-Digitalisierung 2006

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Chinesisches Generalkonsulat München besucht Steinbichler Optotechnik GmbH

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Steinbichler Distributor Meeting 2006

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Perfekte Oberflächen und dokumentierte Außenhautqualität

GESTAMP Polska und VW Nutzfahrzeuge nutzen für die Qualitätskontrolle der Caddy-Außenhautteile das optische Oberflächeninspektionssystem ABIS II

Zum ersten Mal setzt ein Zulieferer für Karosserieaußenhautteile die ABIS Technologie für die Qualitätskontrolle und -dokumentation ein. In einer vorbildlichen partnerschaftlichen Lieferanten-Kunden Beziehung haben die Qualitätsverantwortlichen des Presswerks Gestamp Polska (Wrzesnia) und VW Nutzfahrzeuge (Poznan) gemeinsam die Möglichkeiten der optischen Oberflächeninspektion untersucht und dann die Beschaffung eines ABIS Offline Systems für den Einsatz direkt im Presswerk beschlossen.
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Airbus NDT-Inspection Team setzt Steinbichler Shearografiesystem ISISmobile 3000 ein

Erfolgreiche Zusammenarbeit zwischen Airbus und Steinbichler Optotechnik in der zerstörungsfreien Prüfung von Verbundmaterialien mit Shearografie-Technologie

Bereits seit 2003 benutzt Airbus in diversen Werken in Deutschland und Frankreich ein Shearografie System von Steinbichler Optotechnik. Das NDT-Inspektionsteam war auf der Suche nach einem zuverlässigen Werkzeug für die Airbus Qualitätssicherung und hat heute ein ISISmobile3000 System im Einsatz, welches eine Messfeldgröße mit den Abmaßen von fast DIN A3 Papiergröße besitzt. Aufgrund der hohen Auflösung des Systems (erzeugt durch die Shearografie-Methode - 30 nm out-of-plane), können Fehlstellen unabhängig von der Materialzusammensetzung des Bauteils und der Tiefe des Defektes zuverlässig erkannt werden.