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ABIS II - DETEKTION SÄMTLICHER
RELEVANTER FEHLERARTEN

Mit ABIS II - einem optischen Sensorsystem, das in unterschiedlichen Ausbaustufen und Anlagenkonzepten eingesetzt werden kann - werden auf dem Bauteil sowohl 3D-Fehler (z.B. Dellen, Beulen, Einfallstellen, Welligkeiten, Einschnürungen, Risse) als auch kontrastsensitive Fehler (z.B. Kratzer, Schmutz, Klebereste) mithilfe einer Erweiterung durch
die neue Kontrastsensorik schnell, sicher und hochgenau erfasst.

Aufwändige Nacharbeiten können in folgenden Prozessschritten wie z.B. am Finish-Band somit effizient reduziert werden.



Steinbichler Optotechnik GmbH
Über 20 Jahre Erfahrung und Kompetenz
in optischer Mess- und Sensortechnik:

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