ABIS II - 製造プロセスにおける欠陥検知

製造過程で発生する可能性のある欠陥の大部分は、製造初期段階には『不可視』です。しかしこれらの微小な表面欠陥は、ようやく塗装などの後続する加工段階になってから視覚的な外観として現れ、その修正処理に莫大な費用がかかります。

費用最適化の視点に基づいて高質表面を達成するには、広範な欠陥タイプが認識されなければなりません。凹みや隆起、陥没、波うち、収縮や亀裂などに関する確実・適時の検知と同時に、客観的評価または等級化が不可欠です。というのも、これらの欠陥除去にかかる費用は、製造サイクル（プレス，ホワイトボディ，塗装，組み立て）内で作業工程が進むにつれて急激に上昇するからです。とりわけ、各工程を経て波及的に伝播した欠陥箇所の手直し作業は、製造プロセスの経済効率性に著しい影響を及ぼす人件要因・時間要因の拡大を意味します。